耐用出色的大电流弹片微针模组，使用寿命远超pogo pin

随着人们生活水平的提高与电子产品市场的扩大，数码产品类的生产量与销售量越来越高。这意味着什么？现代的生产人员工作量越来越大，测试人员的工作量也越来越大。连接器测试模组的使用寿命在此时就显得尤为重要，毕竟使用测试模组的次数是非常频繁的。一个耐用的连接器测试模组必然会省下很多时间和功夫，避免频繁更换的麻烦。最近凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，这款模组在应对高工作量时有着惊人的表现。

现在的3C数码类生产商家或厂家越来越繁忙，要面对市场巨大的需求量与出货量。而与此同时，连接器的测试模组需求量越来越大，一款优秀的测试模组不仅在性能表现上要很出色，还要足够耐用，拥有较长的使用寿命。

传统的pogo pin探针模组平均使用寿命较短，仅在5W次左右。尤其在小pitch领域里，pogo pin的稳定性与寿命都表现较差。

在测试过程中，pogo pin十分容易出现扎歪、断针、卡pin现象。测试人员需要经常花时间去调整探针或者进行更换，而这将会影响测试效率，拖慢测试进度，加大了测试人员的工作量。

最近凯智通创新研发了一款优质测试模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin。这款新型模组blade pin平均使用寿命高达20W次，是pogo pin的整整四倍，能够应对频繁的测试工作，避免不停更换的麻烦，节省了更多的时间，提高了测试效率。

20W次的平均使用寿命显然能大大缓解测试人员的工作压力，而在这个分秒必争的数码行业里，时间就是金钱，能领先一秒就能快一步占领市场。而在这方面，凯智通创新研发的大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin具有高使用寿命的特点，能够大大加快测试效率。lw