如何才能吧晶振放置在PCB边缘

网络整理 2020-11-25 14:38:35 0评
tag: EMI晶振

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  某行车记录仪,测试的时候要加一个外接适配器,在机器上电运行测试时发现超标,具体频点是 84MHz、144MHz、 168MHz,需要分析其辐射超标产生的原因,并给出相应的对策。

  辐射源头分析

  该产品只有一块 PCB,其上有一个 12MHz 的晶体。其中超标频点恰好都是 12MHz 的倍频,而分析该机器容易 EMI 辐射超标的屏和摄像头,发现 LCD-CLK 是 33MHz,而摄像头 MCLK 是 24MHz;通过排除发现去掉摄像头后,超标点依然存在,而通过屏蔽 12MHz 晶体,超标点有降低,由此判断 144MHz 超标点与晶体有关,PCB 布局如下:

  辐射产生的原理

  从 PCB 布局可以看出,12MHz 的晶体正好布置在了 PCB 边缘,当产品放置于辐射发射的测试环境中时,被测产品的高速器件与实验室中参考地会形成一定的容性耦合,产生寄生电容,导致出现共模辐射,寄生电容越大,共模辐射越强;而寄生电容实质就是晶体与参考地之间的电场分布,当两者之间电压恒定时,两者之间电场分布越多,两者之间电场强度就越大,寄生电容也会越大,晶体在 PCB 边缘与在 PCB 中间时电场分布如下:

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