怎么样才能避开PCB边缘进行晶振布局

网络整理 2020-11-25 16:37:41 0评
tag: EMI晶振

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  一、问题描述

  某行车记录仪,测试的时候要加一个外接适配器,在机器上电运行测试时发现超标,具体频点是 84MHZ、144MH、 168MHZ,需要分析其辐射超标产生的原因,并给出相应的对策。辐射测试数据如下:

  二、辐射源头分析

  该产品只有一块 PCB,其上有一个 12MHZ 的晶体。其中超标频点恰好都是 12MHZ 的倍频,而分析该机器容易 EMI 辐射超标的屏和摄像头,发现 LCD-CLK 是 33MHZ,而摄像头 MCLK 是 24MHZ;通过排除发现去掉摄像头后,超标点依然存在,而通过屏蔽 12MZH 晶体,超标点有降低,由此判断 144MHZ 超标点与晶体有关,PCB 布局如下:

  三、辐射产生的原理

  从 PCB 布局可以看出,12MHZ 的晶体正好布置在了 PCB 边缘,当产品放置与辐射发射的测试环境中时,被测产品的高速器件与实验室中参考接地会形成一定的容性耦合,产生寄生电容,导致出现共模辐射,寄生电容越大,共模辐射越强

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