季丰电子新增一台发热显微镜

Thermal  Emission是一款发热显微镜，配备了高灵敏度InSb相机，可探测半导体器件的内部发热。通过将高精度热探测器探测到的发热图与模板图像叠加，可高精度的识别失效位置。

可通过IC正面或背面进行定位，找出缺陷位置，更可在IC未开盖状态下定位出失效点为IC本身或封装问题。

除IC可以定位外，还可以应用于大面积的产品，如PCB、面板、被动组件等。

其主要应用为：

• 金属布线短路

• 封裝打線短路

• 接触孔异常

• 氧化物层微等离子体泄露

• 氧化物层击穿

• TFTLCD面板&PCB/PCBA的金属线路缺陷和短路

• 介电层崩溃/漏电

• 静态/动态分析

 

原理：

近期季丰还新增了以下设备：

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原文标题：季丰电子新增一台加热影像定位机台（Thermal Emission）

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责任编辑：haq