×

芯片的封装测试技术与讨论

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:0.94 MB | 2022-07-05

潘周军

分享资料个

通过对 EPSON 生产的 NS-6000 系列高速 IChandler 的介绍，讨论了集成电路封装的测试原理和测试方法，并基于 NS-6000 系列 handler，给出了具体测试实例分析。
下载并关注上传者 开通VIP，低至0.08元下载/次

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !