详细介绍一下TLP测试相关的知识

ESD的概念想必大家都非常清楚，即两个物体之间的电荷的转移，当两个物体之间直接接触或者相互靠近发生介质击穿时，就会产生静电放电。

而TLP（传输线脉冲测试Transmission-line pulse -TLP）是一种通过测量时域的电流和电压来研究集成电路的及其特性的ESD测试方法。

下面详细介绍一下TLP测试相关的知识：
 

 

TLP脉冲发生器的基本结构：长度为L的充电线（TL1），开关S1和高压电源（Vo）。

A、充电线的长度决定了脉冲的宽度；

B、标准TLP的典型值为100ns脉冲宽度，1ns的上升时间；

C、逐步增加脉冲幅度，直到DUT出现故障或者达到最大的电压；

D、DUT的故障通常通过DC漏电流来判断

E、通常读取脉冲时间70%到90%的时间。

使用TLP测试出来的I-V曲线

动态阻抗是ESD保护器件的一个非常重要的参数，动态阻抗越低，表明更多的ESD电流会流经保护器件，更少的电流会流经被保护设备。

动态阻抗的定义：dv/dI

一般TVS的动态阻抗为几百mohm到几ohm，而多层压敏电阻-对于低电容设备，有几ohm或者更高的阻抗。



审核编辑：刘清