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选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:1.17 MB | 2011-04-05

nana

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高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨厌了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件的环测试系统。

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