60W大功率测试座

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描述

产品介绍

JYPROBE抛弃常规采用的老式风扇结构,采用散热鳍片的方式解决高功率测试时的温度难题。

整体结构设计优雅,且无带电散热,这款测试座有效的解决了高功率芯片测试的持续散热问题。采用的JYPROBE的探针可以让我们在Socket的使用中运行的更好,探针可以有效的保证芯片和线路板的接触。

芯片

产品优势

1.利用散热鳍片可以将能耗降低50%

2.能够利用空间有效散热

3.更好的降低电阻

4.更长的测试寿命

芯片

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审核编辑 黄宇

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