你的测试电源有问题吗--由DCDC输出短路引起的实验室电源振荡引发的思考

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我们在测试过程中往往优先考虑的是被测件(DUT)的状态,而忽略了测试系统的稳定性及可靠性,因此有时候观察到的现象可能会与我们预期的相反,情况变得更为糟糕,这种情况常常令人沮丧,项目进度也会停滞不前。可是如果因为排查出最根本的原因而使情况变得更糟时,距离真相也就不远了!


 

有一次,当我对一块DCDC PCBA进行重复短路测试时,虽然开关芯片的过载功能比较好,但可以肯定的是这种破坏性试验引起的结果就是IC损坏!


 

事实证明,短路DCDC输出端似的输入直流电源的输出失控,IC损坏;当以一定的频率重复短路时,情况更不理想。这时我意识到即使是实验室电源也存在内部反馈环路,引起振荡,以前没有遇到过,始终认为只有开关芯片才会发生振荡。
 


 

当DCDC输出短路,输入电压也会被拉低,此时也就是实验室电源的输出被拉低,所以电源反应剧烈,试图恢复正常,从而IC的Vin输入端会产生反复的上冲和下冲,当电压超过Vin的额定值,IC会损坏。


 

但是此时还不能判定具体原因,降低DCDC的输入电压,开关IC的损坏可能性降低了,看上去好像是过大的电压应力造成的IC损坏,而不是过流。这是想到如果利用实验室电源的环路矫正使输出电压抖动变小,肯定会减小DCDC开关芯片的损坏概率,因此将实验室电源的引线加长连接至DCDC的输入端,但是情况相反,电压抖动的更剧烈了!显而易见,电源的开关坏路设计的很差,我对这台电源的合格性严重怀疑,这时候我找同事拿了一台安捷伦的电源,一切又恢复了正常。


 

因此在进行测试之前必须先确认测试系统的好坏,结果:

1. 和预期的一致,短路时由于开关芯片具有限流功能,IC短路时未损坏;

2. 当反复短路时,IC环路不稳定,导致IC Vin引脚被冲击,IC损坏。


 

另外关于短路测试,以前觉得带有过载保护功能的IC损坏模式都是过压,但是后来发现也不尽然,这里摘抄一段Datasheet手册的翻译:过流限制,通过检测高侧MOS管的漏源电压来实现过流限制。然后将漏源电压与表示过流阈值限制的电压电平进行比较。如果漏源电压超过过流阈值限制值,则过流指示器设置为 true(真)。在每个周期开始时的前沿消隐时间内,系统将忽略过流指示器,以避免任何开启噪声干扰。一旦过流指示器设置为 true(真),就会触发过流限制。在传播延迟之后,高侧MOSFET在周期的剩余时间内关闭,这种过流限制模式称为逐周期电流限制有时在短路等严重过载情况下,使用逐周期电流限制仍可能会发生过流失控。使用第二种电流限制模式,即断续模式过流限制,在断续模式过流限制期间,电压基准接地,且高侧MOSFET在断续时间内关闭。一旦断续时间结束,稳压器在慢启动电路的控制下重新启动。


 

建议:针对容易引起输出短路的应用,不建议选取电压控制模式的芯片,选一颗电流模式控制的芯片更合适些,因为电流控制芯片可以进行逐周期过流保护,限流更加容易,并且在特定开关频率处可以做到更快的负载动态响应。


 

备注:本文只提供一种测试案例,并非所有人都会碰到这些问题,绝大部分人在电路设计中碰到的问题都只是九牛一毛,有的由于选型与PCB Layout 布局的不同即使遇到相同的现象可能解决方案也不同,由于本人水平有限,思考问题难免有局限性,因此本文仅供参考!

 

北京汉通达科技主要业务为给国内用户提供通用的、先进国外测试测量设备和整体解决方案,产品包括多种总线形式(台式/GPIB、VXI、PXI/PXIe、PCI/PCIe、LXI等)的测试硬件、相关软件、海量互联接口等。经过二十年的发展,公司产品辐射全世界二十多个品牌,种类超过1000种。值得一提的是,我公司自主研发的BMS测试产品、芯片测试产品代表了行业一线水平。

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