联讯仪器 | CoC全自动测试系统CT6201

半导体激光器通常根据老化前（Pre-Burn In）及老化后（Post Burn-In）测量的一个或多个关键运行参数的变化进行筛选，剔除早期失效，提高产品可靠性，这些参数通常包括阈值电流，在特定工作条件下的输出光功率，达到特定输出光功率所需要的电流，斜线效率以及光谱特性等等。 
 

 

 联讯仪器CoC测试 

 

 

联讯仪器全自动CoC测试系统CT6201 ，与联讯仪器 BI6201老化系统共用夹具，降低了被测芯片上下料的流程，同时也消除了上下料过程中EOS/ESD潜在风险以及CoC产品外观不良的引入。

 

专利光功率耦合系统设计，确保了光学耦合和光谱测量的快速性和重复性。

 

特有的双测试载台设计，每个载台可以独立温控，节省升降温等待的时间，配合 CoC 夹具双侧并行测试，大大提高了测试效率。  

产品特点及优势

1测试效率高

双测试载台设计

每个载台可以独立温控

同时支持双侧并行测试

自动对比老化前后参数变化量，并给出判定

2测试速度快

每个CoC（DFB）测试时间<7s

快速升降温

 

3 特殊夹具设计上下夹具设计，

老化测试过程中上下不分离，

避免多次压接，提高上电通电率

   全自动测试，调高测试效率，

避免人工取放夹具引入的外力损伤

   测试夹具与自动上下料系统AL6201/

老化系统BI6201共用

   无EOS产生

 

 

4联讯自研高精度源表I/V 源分辨率，10fA/100nV
 

I/V 测量分辨率，10fA/100nV

支持直流或者脉冲电源驱动激光器

 

 

5专利设计光耦合系统

确保了光学耦合和光谱测量的快速性和重复性

 

 

6测试重复性高阈值电流重复性<±0.5%；功率重复性<±1%

波长重复性<±0.05nm；SMSR重复性 <5dB

 

 

7规模化应用

联讯CoC老化测试解决方案
 

联讯仪器提供CoC/CoS上下料，测试以及老化完整解决方案，适配不同测试温度要求，不同尺寸，不同类型半导体激光器，极大地提高了测试效率，降低了测试成本！