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使用NIST统计测试集验证STM32微控制器随机数生成

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.50 MB | 2023-09-20

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很多标准都规定了构造要求和参考、随机数发生器（RNG）的验证和使用，以便检验其生成 的输出是否是真正的随机数。 本应用笔记中包含的一些指南用于检验下表列出的所选STM32微控制器（MCU）中嵌入的 RNG外设生成的数字的随机性。该检验基于NIST（国家技术标准委员会）的统计测试集 （STS）SP 800-22rev1a（2010年4月）或SP 800-90b（2018年1月）进行。
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