碳化硅MOS、超结MOS与IGBT性能比较

模拟技术

2295人已加入

描述

整个电力半导体器件中变化最大的就是功率MOSFET,其中,硅基器件中SJ MOSFET器件和IGBT器件在结构和工艺技术得到了较深的发展。SJ(超结)MOSFET采用基于电荷平衡的器件结构,导通电阻明显下降,在高压应用时优势尤其突出。但是,以宽禁带半导体(碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN))形式出现的新材料技术正在提供可改善电路设计人员选择的选择,特性更接近理想的开关。  

碳化硅

半导体材料发展路径(数据来源:浙商证券研究所  )   工程师在性能、成本、操作、尺寸、热效率和可用性之间进行设计抉择时需要权衡取舍。  

一.  碳化硅MOS器件

碳化硅(SiC)是由碳元素和硅元素组成的一种化合物半导体材料,是制作高温、高频、大功率、高压器件的理想材料之一。相比传统的硅材料(Si),碳化硅的禁带宽度是硅的3倍;导热率为硅的4-5倍;击穿电压为硅的8-10倍;电子饱和漂移速率为硅的2-3倍,满足了现代工业对高功率、高电压、高频率的需求,主要被用于制作高速、高频、大功率及发光电子元器件,下游应用领域包括智能电网、新能源汽车、光伏风电、5G通信等,在功率器件领域,碳化硅二极管、MOSFET已经开始商业化应用。  

碳化硅

碳化硅从材料到半导体功率器件会经历单晶生长、晶锭切片、外延生长、晶圆设计、制造、封装等工艺流程。在合成碳化硅粉后,先制作碳化硅晶锭,然后经过切片、打磨、抛光得到碳化硅衬底,经外延生长得到外延片。外延片经过光刻、刻蚀、离子注入、金属钝化等工艺得到碳化硅晶圆,将晶圆切割成die,经过封装得到器件,器件组合在一起放入特殊外壳中组装成模组。  

碳化硅

不同半导体材料性能对比  

二.   超结(SJ)MOS器件

Si-MOSFET根据制造工艺可分为平面栅极MOSFET和超结MOSFET。平面栅极MOSFET在提高额定电压时,漂移层会变厚,导致导通电阻增加的问题。而超结MOSFET通过在D端和S端排列多个垂直pn结的结构来解决这个问题,实现了在保持高电压的同时降低导通电阻。

超结MOSFET的优势在于其具有高耐压和低电阻的特点。相较于普通高压VDMOS,超结MOSFET的导通电阻远小,适用于高能效和高功率密度的快速开关应用。此外,超结MOSFET的额定电压越高,导通电阻的下降越明显,使其在中低功率水平下的高速运行非常适合。

碳化硅

超结MOSFET的制造工艺相较于常规MOSFET更加复杂,主要体现在沟槽的填充外延制造方法上。超级结MOSFET通过使沟槽和沟槽间距尽可能小和深,设计具有较低电阻的N层,实现了低导通电阻产品。

碳化硅

【超级结中,trr比平面MOSFET快,irr电流更大】

超结MOSFET相较于平面MOSFET具有更大的pn结面积,因此在内部二极管的反向电流和反向恢复时间方面存在一些问题。虽然超结MOSFET的trr比平面MOSFET快,但irr电流更大。以下是Si-MOSFET的常规制造工艺和超结制造工艺的对比:

碳化硅

【常规MOS制造工艺】

碳化硅

【超级结的沟槽填充外延制造方法】

此外,Si-MOSFET还与其他器件进行了功率和频率的比较,如IGBT、碳化硅MOS、平面/超结MOS等。

碳化硅

【IGBT、碳化硅MOS、平面/超结MOS的功率和频率比较】

以下是SJ-MOSFET的一些关键特点和优势:

高耐压:SJ-MOSFET具有高额定电压,能够在高压环境下稳定工作。

低导通电阻:SJ-MOSFET的导通电阻远小于传统平面MOSFET,能够提供更高的效率和功率密度。

高速开关:SJ-MOSFET的超级结结构使其具有快速开关特性,适用于高频率应用。

可靠性:SJ-MOSFET的产品质量可靠,性能稳定,适用于各种严苛的工作环境。

三.  IGBT器件

IGBT,绝缘栅双极型晶体管,是由(BJT)双极型三极管和绝缘栅型场效应管(MOS)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件, 兼有(MOSFET)金氧半场效晶体管的高输入阻抗和电力晶体管(GTR)的低导通压降两方面的优点

GTR饱和压降低,载流密度大,但驱动电流较大;(因为Vbe=0.7V,而Ic可以很大(跟PN结材料和厚度有关))MOSFET驱动功率很小,开关速度快,但导通压降大,载流密度小。(因为MOS管有Rds,如果Ids比较大,就会导致Vds很大)

IGBT综合了以上两种器件的优点,驱动功率小而饱和压降低。非常适合应用于直流电压为600V及以上的变流系统如交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域。

IGBT最主要的作用就是把高压直流变为交流,以及变频(所以用在电动车上比较多)。

碳化硅

IGBT有N沟道型和P沟道型两种,主流的N沟道IGBT的电路图符号及其等效电路如下:

碳化硅

所以整个过程就很简单:

当栅极G为高电平时,NMOS导通,所以PNP的CE也导通,电流从CE流过。

当栅极G为低电平时,NMOS截止,所以PNP的CE截止,没有电流流过。

碳化硅

IGBT与MOSFET不同,内部没有寄生的反向二极管,因此在实际使用中(感性负载)需要搭配适当的快恢复二极管。

碳化硅

IGBT的优缺点

优点:

1、具有更高的电压和电流处理能力。

2、极高的输入阻抗。

3、可以使用非常低的电压切换非常高的电流。

4、电压控制装置,即它没有输入电流和低输入损耗。

5、栅极驱动电路简单且便宜,降低了栅极驱动的要求

6、通过施加正电压可以很容易地打开它,通过施加零电压或稍微负电压可以很容易地关闭它。

7、具有非常低的导通电阻。

8、具有高电流密度,使其能够具有更小的芯片尺寸。

9、具有比 BJT 和 MOS 管更高的功率增益。10、具有比 BJT 更高的开关速度。

11、可以使用低控制电压切换高电流电平。

12、双极性质,增强了传导性。

13、安全可靠。

缺点:

1、开关速度低于 MOS管。

2、因为是单向的,在没有附加电路的情况下无法处理AC波形。

3、不能阻挡更高的反向电压。

4、比 BJT 和 MOS管价格更高。

5、类似于晶闸管的P-N-P-N结构,因此它存在锁存问题

IGBT的主要参数:

1、集电极-发射极额定电压UCES是IGBT在截止状态下集电极与发射极之间能够承受的最大电压,一般UCES小于或等于器件的雪崩击穿电压。

2、栅极-发射极额定电压UGE是IGBT栅极与发射极之间允许施加的最大电压,通常为20V。栅极的电压信号控制IGBT的导通和关断,其电压不可超过UGE。

3、集电极额定电流IC是IGBT在饱和导通状态下,允许持续通过的最大电流。

4、集电极-发射极饱和电压UCE是IGBT在饱和导通状态下,集电极与发射极之间的电压降。该值越小,则管子的功率损耗越小。

5、开关频率在IGBT的使用说明书中,开关频率是以开通时间tON、下降时间t1和关断时间tOFF给出的,根据这些参数可估算出IGBT的开关频率,一般可达30~40kHz。在变频器中,实际使用的载波频率大多在15kHz以下。

IGBT如何选型:

1、IGBT额定电压的选择三相380V输入电压经过整流和滤波后,直流母线电压的最大值:在开关工作的条件下,IGBT的额定电压一般要求高于直流母线电压的两倍,根据IGBT规格的电压等级,选择1200V电压等级的IGBT。

2、IGBT额定电流的选择以30kW变频器为例,负载电流约为79A,由于负载电气启动或加速时,电流过载,一般要求1分钟的时间内,承受1.5倍的过流,择最大负载电流约为119A ,建议选择150A电流等级的IGBT。

3、IGBT开关参数的选择变频器的开关频率一般小于10kHZ,而在实际工作的过程中,IGBT的通态损耗所占比重比较大,建议选择低通态型IGBT。

四.  SiC MOSFET与Si SJ-MOSFET对比

1.1静态特性

碳化硅

表1:Si SJ-MOSFET和SiC MOSFET器件参数

上表为Si SJ-MOSFET和SiC MOSFET器件的静态参数,可以看出SJ-MOSFET VGS(栅压)大于VTH(阈值电压)后电流迅速上升,且呈现负温系数。而对于SiC MOSFET 在VGS超过VTH后,上升速度缓慢,说明器件Gf(跨导)较小,且VGS小于10V呈现正温特性。同时在VGS高达20V时(参考输出特型曲线),也没有进入饱和状态,正是由于以上特性,要求SiC MOSFET的开通驱动电压高于SJ-MOSFET,以使得SiC MOSFET工作在负温区。可以看出温度对SiC  MOSFET输出电流特性的影响小于SJ-MOSFET。

碳化硅

图1:Si SJ-MOSFET(图左)与SiC MOSFET(图右)传递特性曲线

如下图所示为SJ-MOSFET与SiC MOSFET的输出特性曲线,当VGS超过8V后,SJ-MOSFET已经充分导通,其IDS-VDS的特性曲线几乎重叠。而SiC MOSFET在不同VGS下的IDS-VDS曲线相距较远,且饱和区与线性区的拐点没有Si器件明显。同时SiC  MOSFET的曲线的斜率在VGS大于15V后变化才会较小,才能获得低导通电阻,以上特征都与其传递特性相吻合。

碳化硅

图2:Si SJ-MOSFET(图左)与SiC MOSFET(图右)输出特性曲线

此外如图 3所示,SiC MOSFET 的RDS(ON)(导通电阻)曲线呈现U形,而SJ-MOSFET的RDS(ON)随着Tj(结温)的升高而升高,这是由于SJ-MOSET的JFET(Junction Field Effect Transistor)区与漂移区电阻起主导作用,同时从图可以看出SiC MOSFET在高温下依然保持较低的导通损耗,而在使用SJ-MOSFET需要特别关注RDS(ON)上升对散热的要求。

碳化硅

Si SJ-MOSFET(图左)与SiC MOSFET(图右)RDS(ON)-TJ特性曲线

1.2 动态特性对比

碳化硅

Si SJ-MOSFET和 SiC MOSFET动态参数 由于器件开关测试条件不同,因此通过观察SiC MOSFET 与SJ-MOSFET  C-V曲线,对器件的开关参数进行初步判断。如上表可以看到SiC MOSFET的Ciss(输入电容)明显小于SJ-MOSFET,可以进一步推测SiC的关断延时会明显小。同时值得注意的是Si SJ-MOSFET的Crss(米勒电容)在低压(小于300V)时相对较小。

碳化硅

图4:Si SJ-MOSFET(图左))与SiC MOSFET (图右)C-V特性曲线

图 5显示SiC MOSFET与SJ-MOSFET的栅电荷Qg,从图中可以看出SiC MOSFET的Qg明显小于SJ-MOSFET,这表明SiC MOSFET的驱动能量明显更小,同时可以看到SiC MOSFET的米勒平台(图中红色标注地方)更小,而SJ-MOSFET有明显的米勒平台,因此SiC MOSFET更适用于高频率的开关。

碳化硅

图5:Si SJ-MOSFET(图左)与SiC MOSFET(图右)Qg特性曲线

五、SiC MOSFET与Si IGBT的参数对比 由于SiC材料的特性,1200V、1700V 电压等级的SiC MOSFET可以与硅基同等电压的IGBT相比较,为了更好地体现SiC与Si IGBT器件之间的特性区别,选取常用的1200V25A等级的SiC MOSFET与Si IGBT,利用其数据手册中提供的数据进行对比。 2.1静态特性

碳化硅

表3:为SiC MOSFET和Si IGBT器件静态参数

图 6为选取IKW25T120与C2M0080120D进行参数对比,可以看出SiC MOSFET和Si IGBT的传递特性形态基本相似,当VGS小于VTH时是正温系数,当VGS较高时呈现负温系数。

碳化硅

图6:Si IGBT(图左)与 SiC MOSFET(图右)转移特性曲线

图 7为器件的输出特性曲线,SiC MOSFET的ID-VDS曲线是从零点开始,是由于其电阻特性,而Si IGBT是在VCE大于VCEsat(饱和压降)后才有电流输出,这是因为IGBT其内部寄生BJT(Bipolar junction Transistor)负责导通。因此在小电流下IGBT的导通压降更大,SiC MOSFET导通损耗更小。在大电流下IGBT能够在较小的导通压降下流通更大的电流,所以IGBT的跨导更大。

碳化硅

图7:Si IGBT(图左)与SiC MOSFET(图右)输出特性曲线

2.2动态特性 表4为SiC MOSFET和Si IGBT器件动态参数,图8所示为选取IKW25T120与C2M0080120D的C-V曲线,从表格可以看出SiC MOSFET 的Crss(米勒电容)明显小于Si IGBT。对比发现由于Si IGBT有较大的Ciss,会导致器件的开通时间与关断拖尾时间较长,则其开关能量就会明显大于SiC MOSFET。但同时需要注意的是SiC MOSFET的快速开关,也会导致开通过程中较大的VDS与IDS尖峰。但值得注意是,不同厂家对不同应用进行器件最优匹配时,会对参数采取不同的规格设计(也受限于结构、工艺等多种因素)。

碳化硅

表4 :SiC MOSFET和Si IGBT器件动态参数

碳化硅

图8:Si IGBT(图左)与SiC MOSFET(图右)C-V特性曲线 Si IGBT和SiC MOSFET的栅电荷Qg如图9所示,SiC MOSFET的Qg明显小于IGBT,这说明SiC MOSFET更适用于高频率。

碳化硅

图9:Si IGBT(图左)与SiC MOSFET(图右)Qg特性曲线

以上都是通过DateSheet数据分析,但是对于器件性能的评估,还需要结合实际应用中器件静态特性、开关性能、温度行为和损耗分布等方面的综合比较。引用相关文献中三种器件(SiC MOSFET与Si IGBT与Si SJ-MOSFET)的关断测试波形,如图 10、图 11所示。在相同半桥测试条件下,SiC MOSFET比其他器件更快,SiC器件可以显著减小开关电路的开关损耗,提高效率。因此,SiC功率器件很适合于高频高压场合。同时需要注意的是,碳化硅设备的栅极驱动电压是不同的。

碳化硅

图10:Si IGBT 与SiC MOSFET Turn off曲线

Eoff@ Ic=12.5A, Vce=800V, Rgoff=2.2Ω,Vgsoff=4V

碳化硅

图11:SiC MOSFET与Si SJ-MOSFET Turn off曲线

Eoff@ Ic=16A, Vce=400V, Rgoff=14.7Ω 六.  器件的选择 如果您对在不同类型的半导体器件和材料之间进行选择感到困惑,为您提供了一种简单的方法。

碳化硅

根据电源开关电路的工作条件,我们应在电源开关电路中使用哪种半导体器件?

以H桥作为AC-DC转换器的设计为例。直流母线电压为370V,变压器中的电流约为3A,开关的工作频率为15至25kHz。出于安全原因,我们选择一种能够承受650V开关和至少30A的组件。我们没有胶合逻辑,计划使用硅绝缘栅双极晶体管(IGBT),硅超结(SJ),SiC或GaN器件。

碳化硅

100W辅助器件中SiC MOSFET的简单示例电源

选择使用哪种器件的方法是关注其工作条件。通过回答以下一系列问题来做出选择:

·电路设计的开关频率是否低于20kHz?

·功率水平是否高于3kW?

·如果低成本很重要,那么系统成本低吗?

·由三相电网供电么?

如果以上任何一个答案为“是”,则最好的选择是Si IGBT。

如果设计不符合这些条件,那么下一组问题将有助于缩小选择范围:

·开关频率是否在20 kHz至100kHz之间?

·设计将在各种各样的线路和负载条件下运行吗?

·设计是否需要以适中的成本实现高效率?

·设计将由单相电网供电吗?

如果设计满足这些特性,那么最好的器件选择是Si SJ MOSFET。

如果设计不符合这些标准,那么我们可以继续选择:

·开关频率是否高于100kHz?

·设计将在各种各样的线路和负载条件下运行吗?

·数kw的功率吗?需要高效率吗?

·设计是否应允许功率双向流动?

·是由三相电网提供吗?

如果满足这些条件,则最好的器件选择是SiC MOSFET。

或者以下判断标准:

·设计的开关频率是否会高于100kHz且在MHz范围内?

·它将在各种各样的线路和负载条件下运行吗?

·该设计是否应支持最大功率密度和效率的中等功率(最高数百瓦)?

·设计将由单相电网提供吗?

如果设计确实满足这些标准,则最好的选择可能是GaN MOSFET。

根据目标应用选择设备

同样,我们可以通过一组标准来定义要使用的设备。通常,应围绕Si IGBT设计驱动功率超过250W的电机驱动器,运行功率超过3kW的功率因数校正(PFC)电路,运行功率超过5kW的太阳能/风能逆变器以及UPS和H桥逆变器。

碳化硅

适用于AC-DC应用的中复杂度10kW六包PFC转换器

对于工作在250W以下的电动机驱动器,工作在75W至3kW之间的DC-DC转换器,中低功率PFC电路和LCC转换器,正向转换器电源,通用输入AC-DC反激电路以及太阳能微逆变器应使用Si SJ MOSFET。

应该使用SiC MOSFET来构建更高功率的设计,例如以3kW以上的功率运行的PFC电路,以5kW以上的太阳能逆变器,一些电动汽车和车载充电器以及一些不间断电源和嵌入式PFC电路。

碳化硅

双向有源PFC转换器,用于AC / DC应用,逆变器或电动汽车车载充电器

最后,应围绕GaN MOSFET设计由单相电网供电,工作电压低于650V,工作电压在75W至750W之间,且需要小型,凉爽和便携式的应用。

在设备的性能,成本,操作要求,尺寸,热效率,可用性等之间,设计选择之间总是需要权衡取舍。引入Sic和GaN技术可能会通过引入更多选项使探索这些折衷变得更加复杂,但是在某些应用中,它可以帮助您的设计更接近于完美。

审核编辑:黄飞

 

打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分