电路板测试之探针间距

探针间距是指在电路板测试过程中，探针之间的中心到中心距离。在理想情况下，电路板应使用行业标准的100mil弹簧探针进行测试。这种探针设计低成本且可靠，适用于探测中心到中心距离为100mil或更大的电路点。

然而，有时候电路板上的器件间距可能不符合100mil的标准。在这种情况下，可以使用标准的探针设计来适配较小的间距。例如，可以使用75mil间距的探针设计，或者甚至更小的50mil间距或更近的间距，以满足实际需求。

需要注意的是，随着探针尺寸的减小，成本会增加，并且获得高可靠性也变得更加困难。较小的探针尺寸可能需要更高的制造精度和材料要求，以确保其可靠性和稳定性。因此，在选择探针尺寸时，需要权衡成本和可靠性之间的关系，并根据实际情况做出合理的选择。

审核编辑：黄飞