NI发布PXIe-5667接收器,应对常见频谱监测和信号监控难题

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描述

  新闻要点

  ·NI PXIe-5667 3.6和7 GHz频谱监测接收器拥有超过110dB的最佳动态范围和失真性能,三阶截点(TOI)超过17 dBm。

  ·宽带接收器内置屡获殊荣、高性能的NI PXIe-5665矢量信号分析仪(VSA)架构,是无线RF测量的理想选择。

  ·除了行业领先的模拟规格,NI PXIe-5667允许用户在可配置的FPGA硬件中进行实时信号分析和高级信号处理。

  电子发烧友网讯:2012年12月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布NI PXIe-5667频谱监测接收器 ,可用于无线电监测、干扰检测、频谱规则以及ITU推荐的相关应用。

  NI PXIe-5667结合NI FlexRIO与NI LabVIEW FPGA模块, 可在FPGA硬件中进行实时射频信号分析,如连续频谱监测、谱图和高级信号处理,无需再延迟等待数据在主控制器或PC之间的传输。 可用的LabVIEW FPGA IP包括数字下变频器信道、跳频检测以及发现违反频谱遮罩的功能。

  感言

  “ 我们对NI PXIe-5667的性能十分满意”,NI射频研发部副总裁Jin Bains说道: “其动态范围和扫描速度惊人,远胜其他接收器10倍以上,彻底改变了无线电监测应用。”

  产品特性

  ·频率范围涵盖了20 Hz至7 GHz,实时带宽高达50 MHz

  ·射频频谱的扫描速率高达30 GHz/ s

  ·动态范围》 110 dB,噪音系数《12 dB

  ·二阶截取点为80 dBm,TOI》17 dBm

  ·实时信号分析与FPGA硬件的高级信号处理

  进一步了解NI PXIe-5667,请访问http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/zhs/nid/211019。

  关于NI

  自1976年以来,美国国家仪器,简称NI (www.ni.com)一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来,NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展,确保客户、员工、供应商及股东获得成功。

  LabVIEW、National Instrument、NI和NI FlexRIO为美国国家仪器有限公司(National Instruments)的商标。 此处提及的其它产品和公司名称均为其各自公司的商标或商业名称。

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