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某电子装备的机内测试系统设计

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:122 | 2009-07-08

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为了提高某航空电子装备的测试速度和测试的可靠性，设计了一种针对该电子装备的机内测试(BIT)系统。在系统中采用了上位机和下位机的多控制器形式，提出了基于无线通讯的数据传递方法，提出了机内测试与分布式测试的结合。该系统提高了电子装备的测试水平和测试诊断速度．也可用于大型工厂的生产监测。
某电子装备是现装备的一航天器的地面发射控制与测试系统．对于发射的成功与否起到至关重要的作用．其设计非常复杂，而试验和维修手段仍然采用常规的手动测试方法，维修保障费用很高， 为此设计了机内测试(BIT)系统。BIT (机内测试)技术是可测试性设计的一种方法。它的应用可以使系统、设备内部具有检测、隔离故障的自动测试能力，并且不用外部测试设备． 就能完成对系统、分系统或设备的功能检查、故障诊断与隔离以及性能测试。
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