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元器件长期储存的失效模式和失效机理
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2017-10-17
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由于我国的长期储存可靠性研究起步较晚，有关电子元器件可靠性研究方面的文献资料远远不能满足武器装备对其贮存可靠性信息的需求。为提高武器装备的贮存可靠性，对元器件长期储存期间的失效模式和失效机理进行深入的研究，无论在理论上，还是在生产上，都具有十分重要的意义。 本论文对几种元器件长期储存期间的失效进行了失效分析，并对其失效机理进行了探讨。 5 失效判据或失效模式 5.5 整流二极管的失效模式 该样品（编号为 355在广州库房贮存约 2 年后，在常规测试中进行外观检查时，发现样品的正极实心铜引线与钼柱之间断开，已经无法完成正常的整流功能。该整流二极管的失效模式为正极实心铜引线与钼柱之间断开。 5.2 温度补偿震荡器的失效判据和失效模式 温度补偿震荡器的主要参数有温度总频差、输出幅度、频率微调。参数的失效判据根据产品设计的技术指标要求来确定。参数的正常范围为：温度总频差：±35 Hz，输出幅度≥5 V，频率微调：±5 CCm。 样品（编号为 285在广州库房贮存约 4 年后，常规检测中 3 项功能参数均无输出，测试结果如表 5 所示。该温度补偿震荡器的失效模式为
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