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极限温度有源探头可靠的温度箱测试
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可靠性温度测试在电子设计流程中非常重要。它有助于在早期检测产品故障；确定合理的校准 / 保修时间；了解产品在极端温度条件下的长期性能。电子行业把温度划分为三个等级。首先是所谓的标准范围或商用级，在 0 ºC 至+40 ºC 范围内产品可以获得全面的质保。-45ºC 至 +80 ºC 是一个更严苛的温度范围，通常用于消费电子产品的极限测试。最后是极限温度范围，通常用于军事、汽车和航空航天行业，范围为 –55 ºC 至 +150 ºC，在对电子产品执行环境测试时，测试工程师通常面临着一个困境：探测系统必须能够像产品一样适应严峻的环境条件。例如，车载设备的强化寿命测试需要在 -55 ºC 至 +150 ºC 温度范围内进行。迄今为止，极限温度测试要求工程师在非指定温度范围内使用探头，从而会损坏探头。无论是有源还是无缘探头，大部分探头具有指定的工作温度范围，从 0 ºC 至 +50ºC。同轴电缆介质材料的热膨胀会使这些常规探头受损。塑料外壳在 +60 ºC 以上的温度就会开始变形。随着温度向极限范围靠拢，有源探头放大器的频率响应开始下降。图 1 显示了在高温老化测试之后，普通同轴电缆的外部屏蔽出现故障。
图 2 显示了在环境舱内进行多次热循环之后，对探头连接器进行 X 光纤检测。同轴电缆中的介质材料会收缩，把中心探针从插座中拔出。最终会引起直流不连续性。
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