基于NI PXI模块化测试平台对采用JESD204B协议进行测试

什么是JESD？

JESD204B是一种连接数据转换器（ADC和DAC）和逻辑器件的高速串行接口，支持高达12.5 Gbps串行数据速率，并可确保JESD204 链路具有可重复的确定性延迟。在这里我们基于NI PXI模块化测试平台对采用JESD204B协议的TI DAC38J4芯片进行测试。

使用高速串行模块PXIe-6591R输出高速串行信号，经由FMC输入给DAC芯片的EVB，使用高达26.5 GHz频率和765MHz瞬时带宽的高性能矢量信号分析仪和频谱分析仪PXIe-5668R对DAC芯片的射频信号输出进行采集和分析。
 

如何利用PXI平台实现JESD测试？

1、PXIe-6591R高速串行模块包含Xilinx Kintex-7 FPGA，以实现针对各类串行协议的验证、连接和测试。我们使用LabVIEWFPGA对PXIe-6591R进行编程，通过CLIP在其FPGA中完成JESD204B协议所定义的输入输出。

2、PXIe-6591R的串行数字信号通过MiniSAS HD电缆经过FPGA夹层卡FMC转换输入到Texas Instruments的DAC38J84 EVB板，板上包括时钟芯片路由6591R的时钟到DAC并进行锁相。USB到mini-usb电缆将DAC模块连接到PXIe-8880控制器，通过SPI协议对DAC芯片进行配置，DAC38J84输出射频信号。

3、NIPXIe-5668R信号分析仪将高RF测量性能、高测量速度和高灵活性集于一身，应用于RFIC/ PA测试，雷达测试和频谱监测等领域，我们基于NI-RFmx得以快速开发DAC芯片输出的射频信号采集分析程序，利用LabVIEW可编程FPGA为高级测试和测量应用进行仪器的用户自定义。