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典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)详细中文概述

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:1.83 MB | 2018-04-23

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　　内容

　　12.1 射频集成电路测试基本问题

　　12.2 滤波器主要技术指标及其测试方案

　　12.3 低噪声放大器主要技术指标及其测试方案

　　12.4 功率放大器主要技术指标及其测试方案

　　12.5 振荡器主要技术指标及其测试方案

　　12.6 混频器主要技术指标及其测试方案

　　12.7 调制解调器主要技术指标及其测试方案

　　12.8 电子测量自动化

　　12.9 GPIB总线标准

　　12.10 VXI总线系统简介

　　12.11 ATE自动测试系统

典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)详细中文概述

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