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探测系统
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光电探测系统是一种用于电子与通信技术领域的计量仪器,光电探测系统最多可达6个探测臂、温度范围:4.2K到325K、最大样品直径:30mm、真空度:10e-5torr、磁场最大:2T、磁场可以垂直及平行于样品,并且在平行及垂直方向附带光学窗口,透光范围为从可见光到红外光波段、能配合吉时利4200系统测试霍尔效应及磁电阻效应等。
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