NAND闪存介绍及NAND闪存的优缺点

虽然没有电子设备是100％可靠的，但作为设计师，我们确实努力实现这一目标。但某些技术，如DRAM＆amp; NAND Flash，有特殊问题。让我们来谈谈测试策略。

NAND闪存与机械存储设备一样，默认情况下是不可靠的 - 这是电子世界中不寻常的情况。它的不可靠性通过使用专用控制器来处理。另一方面，DRAM被认为是“非常”可靠的。服务器通常具有错误检测（并且可能是校正）电路，但消费者和商业机器很少这样做。我将专注于DRAM。

虽然大多数精细几何电子设备都受到辐射引起的SEU（单事件干扰）的影响，但DRAM的另一个缺点是，它本质上是一种模拟技术。数十亿微型电容器必须保持充电状态，或至少在下次刷新之前保持充电状态。如果其中一个盖子有点漏或比它应该更小，则可能导致操作不可靠。令人抓狂的是，失败机制可能是间歇性的，也可能与数据有关。

随着内存时间变得越来越快，我们应该像在千兆位串行通道上那样运行眼睛测试。例如，这是一个1.33Gb/s的DDR3眼睛：

（来源：Micron Technology）

什么我们应该运行测试数据，无论是软件生成还是硬件生成，以便锻炼眼睛？伪随机是一个良好的开端。

我对内存测试的兴趣可以追溯到我的第一台计算机。在遭受512字节内存一年后，我添加了一块32kB DRAM板！无论是由于糟糕的电路板设计，还是真正令人质疑的DRAM芯片质量，内存错误都是经常发生的，有时甚至是微妙的。简单的模式可以检测出最糟糕的错误，但直到我实施了伪随机测试才发现最罕见的错误。

这些错误是由于眼睛坏了吗？可能不是。更有可能的是，它们来自模式灵敏度，其中DRAM芯片上的数据位以某种方式与芯片的设计者相互作用。虽然给出了PCB设计的状态。 1980年，电力完整性也可能是根本原因。

作为支持DRAM的机器的最终用户，我们仍然可以通过纯软件方式执行全面的内存测试，例如优秀的Memtest86程序，其中包括许多测试中的伪随机程序。根据我的经验，底线是伪随机是追踪使用其他方法无法显示的片状错误的最佳方法。

作为内存子系统的设计者，我们可以去超越这种方法并得到探索。使用伪随机模式不仅可以为我们的示波器创建一个合适的眼图，它可能会发现任何模式敏感度问题（尽管这更像是一个单元测试，而你只是在开发中进行眼睛测试）。