激光测厚仪原理

　　激光测厚仪是什么

　　激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。

　　

　　激光测厚仪的特点

　　1 精度高、无辐射、安全性能好。

　　2 测量范围大（0—750mm）。

　　3 响应快速、不受被测目标材质影响。

　　4 实时厚度曲线显示、绘制，历史厚度曲线储存。

　　5 全数字系统，使用方便，易操作，维护简单。

　　6 炉号、钢号、坯号、班号、检测时间与MIS系统连接自动生成日报、班报。

　　7 高强度C型架设计，自带高温防护措施，既保证了强度又保证了使用寿命。

　　8 相对X射线测厚仪没有辐射污染。

　　激光测厚仪原理

　　两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内，

　　根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。

　　激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化，两者之间的关系：

　　

　　式中：X、X`——分别是被测物位移和光敏器件上像斑的位移；

　　L、L`、α——是系统的结构参数，是根据具体使用要求而选定的。

　　由此可见精确地测量X`就可以得到被测物体的位移量，这就是三角法测量位移的原理。