登录
如何在设计过程的早期使用pcb测试点来优化设计
EE techvideo
2019-10-14
3017
分享海报
EE techvideo
2854 文章
1045.9w阅读
370粉丝
+关注
描述
缓冲设计测试(DFT)可以提高您的上市时间。学习如何在设计过程的早期使用pcb测试点来优化设计。
打开APP阅读更多精彩内容
点击阅读全文
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
相关推荐
pcb
测试
设计
如
何在
PADS中添加表面型
测试点
2011-04-17
0
关于ALLEGRO自动添加
测试点
2012-04-05
0
pcb
的
测试点
的设计规范
2012-05-16
0
怎么在
PCB
中添加
测试点
?
2013-05-21
0
PCB
电路板上为什么需要有
测试点
?
2016-08-24
0
什么是
PCB
的
测试点
?
2017-02-06
0
PCB
电路板的
测试点
是什么
2018-09-17
0
电子产品
测试点
优化
综述
2011-01-10
603
利用PADS可
测试
性设计
优化
PCB
测试点
和DFT审核
2019-05-14
3506
PCB
设计中如何创建
测试点
2020-12-15
10038
浅谈
PCB
上
测试点
的用途
2023-03-31
705
为什么要在
PCB
中使用
测试点
?
2023-05-11
3189
PCB
引脚通孔与
测试点
间距评估
2024-04-30
847
测试点
的直径参数
2024-10-28
135
全部
0
条评论
快来发表一下你的评论吧 !
发送
登录/注册
×
20
完善资料,
赚取积分