集成电路的特性测试

集成电路的特性测试

一、实验要求
利用实验室提供的各种系列的芯片,通过芯片测试仪对其测试。
二、实验目的
1．学习使用芯片测试仪。
2．掌握不同的测试方法。
三、实验设备：
GUT-6000A 数位IC 测试器一台。
集成电路芯片若干。
四、设备简介
1．功能介绍
GUT-6000A 数位IC 测试器具有开机自我侦测诊断功能和过载保护功能 。
可量测的 IC 种类超过 1800 种 ，可测54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000
及4500 系列 ，CMOS 最大可测 Pin 数 : 28 Pin ，测试电压 5V DC，在高测
试速度时，平均 0.8 秒可完成一个 IC 的测试。
2．使用说明
（1） 将手柄放平，将待测芯片插入测试仪的管角底座中，（注意当芯片的管角
数少于底座的管角数时，芯片应在下部插入，并且芯片上的表示朝上。）
（2）将手柄拉起，锁紧芯片，按照以下方法测试。
（3） 按下loop 键，进行循环测试。
（4） 输入芯片型号，（例如输入74ls138）按下go 键，则进行测试。
（5） 按下auto 键，则进行自动测试。
3．测试结果说明
在上述3，4，5 三种测试情况下，如果测试成功，屏幕显示芯片的型号和
pass 标识，否则显示fail 表示。

五、实验内容
分别利用不同的方法对TTL 和CMOS 系列芯片进行测试。
六、实验报告
1．对所测试的芯片的型号和好坏进行记录，并画出其中一种芯片的逻辑管
角图。（要求包括两个系列）
2．回答下面的思考题：
（1）TTL 芯片和CMOS 芯片各有什么特点？