电子实验
一、 实验目的
1、观察并掌握典型二阶系统的单位阶跃响应特性。了解结构参数变化对系统性能的影响。
2、学习利用课程中所用知识设计典型二阶系统。
二、 实验设备
硬件设备:微机一台,示波器一台,TDN-86/88—TDN-AC/ACS实验系统一套。
软件设备:Windows 2000操作平台,TDN-AC/ACS系统集成操作软件。
三、 实验原理
典型二阶系统
① 典型二阶系统的方框图及传递函数
图2-1是典型二阶系统原理方框图,其中T0=1S,T1=0.1S,K1分别为10、5、2.5、1
表2-1列出有关二阶系统在三种情况(欠阻尼、临界阻尼、过阻尼)下具体参数的表达式,以便计算理论值。推导过程请参照有关原理书。
四、 实验内容及步骤
1、准备:将“信号源单元 ”(U1 SG)的ST插针和+5V插针用“短路块”短接,使运算放大器反馈网络上的场效应管3DJ6夹断。
2、选择适当大小的元器件,自行设计一典型二阶系统。
典型二阶系统瞬态性能指标的测试
① 按照自己设计的电路图连线,求其传递函数表达式。
② 用示波器观察系统阶跃响应C(t),测量并记录超调量Mp,峰值时间tp和调节时间ts,记录表2-2中。
③ 改变系统开环增益,观察相应的阶跃响应C(t),测量并记录性能指标Mp、tp和ts,及系统的稳定性,并将测量值和计算值(实验前必须按公式计算出)进行比较。参数取值及响应曲线,详见表2-2。
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