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J750 512针测试系统维修参考手册
jennifer_2020
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本手册的系统概述章节提供了J750512引脚测试系统的一般说明。本章包括系统功能列表、系统主要组件的说明、J750组件的位置和基本说明，J750组件是J750的一部分。有关电路板和组件的详细信息，请参阅本章其他章节手册。那个以下信息包含在本章移动系统框图中
J750-512引脚测试系统提供测试各种复杂的超大规模集成（VLSN）设备所需的功能和灵活性，从测试仪产生一个测试头系统，可以坐在prbr:y awx 3 7.微控制器到ASIC之上，并建立在一个平台上，将随着客户的增长而增长测试仪将整个数字子系统集成到一个64针通道板上，这意味着一个完整的5 12针测试仪可以由8个通道板和多个支撑板组成。这种集成化设计大大降低了复杂度J750-512引脚测试系统是一个功能齐全的100MHZ超大规模集成电路测试仪。集成数字通道架构提供了完整的每引脚100MHZ测试，具有革命性的经济性和占地面积。该测试仪的数字特性包括100MHz全格式化（非多路复用）驱动和接收MEG图案深度每引脚高电压/高电流（±24v，±200ma）PMU6每引脚边缘高达50MHZ，每个引脚4个边缘高达100MHz Z256全局时间集，32个每引脚边缘设置周期，基于飞行时间，周期和格式变换器每针参数测量单元（PPMU）仪器配置，以进行真正的并行测试硬件站点启用每通道异步模式发生器
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