弹片微针模组在平板电脑测试中拥有着稳定的连接功能

平板电脑可靠性测试项目包括高低温环境下的操作、循环、存储测试，冷热冲击测试，老化测试，湿热测试、高空跌落测试，耐盐雾、耐腐蚀测试、抗冲击、振动测试等等。平板电脑的触摸屏、摄像头、电池等组件以及内部电路和连接器的连接、传输等也都需要经过测试。测试中有电流传输和信号导通的需求，可用弹片微针模组进行连接。

弹片微针模组在平板电脑测试中拥有稳定的连接功能，在大电流传输中，能通过1-50A范围内的电流，且连接稳定，无电流衰减，可更好的保证平板电脑通过大电流测试。

在小pitch领域内，特别是≤0.2mm的pitch中，弹片微针模组都可保持极佳的连接性能，即使长时间应对也不会卡PIN、断针，表现力和寿命都远超其他模组。

平均20w次以上的使用寿命，能使弹片微针模组在平板电脑大批次高频率的测试中保持超强的连接性，提高平板电脑的测试效率，还能在程度上节省时间和物力成本，避免材料的浪费。

平板电脑可靠性测试是验证平板电脑质量、性能的直接途径，对于测试设备的选择以及各个环节的把控都很重要，弹片微针模组可满足平板电脑的测试需求，有着不可替代性，可保证平板电脑测试的稳定进行，对提高测试效率也有很大帮助，是非常值得选择的连接模组。

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