电池测试模组可保障电池测试的稳定性，提高测试效率

手机电池性能衰退可以分为正常性衰退和滥用性衰退。

正常性衰退是指手机电池放电循环次数的减少，是由于电池在正常使用状态下的自然衰退，也是无法避免的。

滥用性衰退是指手机电池因为不正确的使用方式而造成的衰退，比如过度充电、过度放电、在极度高温或低温下使用、进行大功率的充放电等，这种衰退是可以避免的。

手机电池尽量不要在低电量的情况下使用，电量低于20%时就应该立即充电，当手机电池电量低于5%时，继续使用会对电池造成不可逆的损伤，严重损害手机电池的性能。

手机电池中都有电池保护板的存在，可以保护手机电池不被过度充电，但是当手机电池充满电后，还继续对电池进行长时间的充电，依然会使手机电池的性能受到损伤，进而衰退。

手机电池的性能需要通过测试来验证，这是制造环节中必不可少的一项，必须严格把控电池质量，避免劣质电池流入市场，影响使用安全。手机电池测试中可用到电池测试模组，来保障电池测试的稳定性，从而提高3C锂电池测试效率。凯智通大电流弹片微针模组拥有极佳的连接性能，在3C锂电池测试中可传输大电流，也能应对小间距的电池连接器，使接触更稳定。

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