通过GUI或者Phyton API脚本对于主板/背板端，或者外设端进行测试

随着PCIe Gen 4和Gen 5的项目开发越来越多，很多公司希望在PCIe链路层注入故障来模拟针对主板/背板一侧，或者外设一侧（如插卡，NVMe SSD等）的各种异常，业内主流的CPU厂商例如Intel和AMD, 以及PCIe Switch厂商Broadcom, Microchip目前都在使用英国Quarch的PCIe Gen 5 x16的测试卡实现针对Gen 5的测试。

Quarch公司提供针对PCIe Gen 4和Gen 5各种接口的测试插卡和模块，包括U.2, U.3, M.2, AIC （x8和x16），EDSFF L1.S (x4) / L1.L (x8)，以及各类PCIe Cable的测试模块等，满足用户测试的各种需求。当然，除了针对NVMe SSD的各种模块之外，传统的针对24G/12G/6G SAS和6G SATA也提供相应的测试模块。

下面的功能概览适用于上述所有各种PCIe接口，工程师可以根据需要通过GUI或者Phyton API脚本对于主板/背板端，或者外设（插卡，NVMe SSD）端进行测试。

模拟在任意针脚上注入信号毛刺，进行物理层/协议层故障注入

可以设置信号毛刺的多少，注入一次毛刺，还是持续加毛刺，间隔时间多长等

信号毛刺的高低，疏密，持续的时间长短

通过调整信号毛刺参数实现针对PCIe协议的故障注入，如bit error，CRC error等。

模拟盘的热插拔

模拟盘热插拔过程中导致的pin bounce时断时通等接触不好的情况

模拟某些针脚断掉

模拟某些针脚长通

模拟某个Lane中的某些差分信号有毛刺，或者某个Lane不通

模拟非常快速的插拔（通/断）测试

电压拉偏和功耗测试是测试SSD的基本测试项，包括PCIe/NVMe SSD和传统的SAS/SATA HDD/SSD。其中，电压拉偏测试主要是保证SSD在接入不同厂商设计的主板/背板时候如果其输出电源和标准有偏离，那么SSD是否还可以正常稳定的工作，该测试电压拉偏的设置最低允许工程师以1us作为粒度调整电压。

功耗测试是找出SSD在不同的业务负载等情况下的电压/电流/功耗的情况，Quarch可编程电源支持最大250K采样率，可以实现非常精细的电压/电流/功耗计量，在最小采样率7Hz设置的时候其内部记录buffer可以实现24小时以上的持续记录，记录的数据可以通过GUI界面分析，其Test Monkey图形化软件允许用户放大/缩小插卡分析局部细节，同时也自动自动计算出电压/电流/功耗的最大/最小/平均值，另外软件也允许用户将记录的数据导出成.csv作离线进一步分析。

关于Saniffer       

Saniffer公司位于上海张江高科技园区，是国内唯一专注于存储测试工具领域的综合服务提供商，涉及测试工具覆盖了存储生态的各个环节，从芯片开发，底层固件和驱动开发/验证，测试工程，应用工程，RDT可靠性测试，一直到生产测试。测试的产品涉及存储控制器IP，芯片，HDD/SSD，存储系统，服务器，网络设备研发，设计，生产和制造。Saniffer提供的测试方案包括并不限下面涉及的技术：

PCIe/NVMe Gen 4/5

SAS 12/24G / SATA 6G

UFS 3.0/3.1

NAND 400MT/800MT/1.6GT

LPDDR/DDR 4/5

FC 32G

FCoE

iSCSI

NVMoF (NVMe over Fabric)

FC-NVMe (NVMe over FC)

随着近几年PCIe Gen 3/4/5技术及NVMe SSD在国内的快速发展，Saniffer迅速成为国内在该领域的知名供应商，成为UNH IOL认证的SerialTek, SanBlaze, Quarch在中国的独家合作伙伴。

感兴趣的朋友可以直接访问：https://www.saniffer.com/cn/downloads/，或者访问Saniffer官方网页，然后点击中文->文档下载下面的“PCIe Gen 4 NVMe SSD测试环境搭建和常用工具图解_ver3.0”下载最新的针对PCIe Gen 4 NVMe SSD的汇总的测试技术和产品文档即可。或者，直接到下面的链接直接下载我们更新的测试工具白皮书，里面含有针对SerialTek PCIe Gen 4和Gen 5协议分析仪的更加详细的功能介绍，文件大小15M字节：

链接: https://pan.baidu.com/s/1W6EXxybpC6S0XEy25SyRKg 提取码: sqji

该文档系统对于PCIe Gen 4 控制器芯片或NVMe SSD产品开发/测试常用的各种相关测试工具进行图解剖析，涉及PCIe Gen 4协议分析，性能/功能/协议兼容性/IOT测试，热插拔自动化测试，掉电测试，高低温测试，以及如何构建PCIe Gen 4 NVMe SSD测试环境，从Gen 4主板选型开始，涉及PCIe Gen 4 NVMe SSD三类接口（M.2, U.2, AIC）的端口扩展，各种常用的主机卡，转接卡，盘柜，延长线的选择等，以及考虑到测试便利性使用的主板托架和实验室批量测试机架等解决方案。

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