模拟技术
ADS41B25 作为 ADS4xxx 模数转换器 (ADC) 系列成员,采用集成模拟输入缓冲器。 该器件运用创新的设计技术以实现高动态性能,且功耗极低 。 其模拟输入引脚采用缓冲器,具有跨宽频率范围的恒量性能和输入阻抗优势。 这类器件非常适合于 PA l线性化等多载波、大带宽通信应用。
ADS41B25 具有数字增益和偏移校正等功能。 该增益选项可用于在较低的满量程输入范围 (特别是高输入频率条件)下改善 SFDR 性能。 集成的 dc 偏移校正环路可用于评估和消除 ADC 偏移。 在较低的采样速率条件下, ADC 的操作功耗将自动减低,而没有性能损失。
该器件支持双数据速率 (DDR) 、低电压差动信号 (LVDS) 和 CMOS 数字输出接口。 DDR LVDS 接口(最大 500MBPS)的低数据速率实现了对基于现场可编程门阵列 (FPGA) 的低成本接收器的采用。 该器件具有可用于进一步降低功耗的低摆幅 LVDS 模式。 可提高 LVDS 输出缓冲器的强度来支持 50Ω 差分终端电阻。器件采用紧凑型 QFN-48 封装,而且其技术规格是针对工业温度范围(–40°C 至 +85°C)拟订的。
特性
Ø 分辨率:12 位 125MSPS
Ø 集成高阻抗
模拟输入缓冲器:
Ø dc 输入电容:3.5pF
Ø dc 输入电阻:10kΩ
Ø 最高采样速率:125MSPS
Ø 超低功耗:
Ø 1.8V 模拟功耗:114mW
Ø 3.3V 缓冲功耗:96mW
Ø I/O 功耗:100mW (DDR LVDS)
Ø 高动态性能:
Ø SNR: 68.3dBFS (170MHz 时)
Ø SFDR: 87dBc(170MHz 时)
Ø 输出接口:
Ø 支持可编程摆幅和强度的双倍数据速率 (DDR) LVDS:
Ø 标准摆幅:350mV
Ø 低摆幅:200mV
Ø 默认强度:100Ω 终端电阻
Ø 2 倍强度:50Ω 终端电阻
Ø 也支持 1.8V 并行 CMOS 接口
Ø 可编程增益支持 SNR/SFDR 平衡
Ø DC 偏移校正
Ø 支持低输入时钟幅度
Ø 封装: QFN-48 (7mm × 7mm)
责任编辑:gt
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