手机锂电池测试中大电流弹片微针模组的作用

手机电池性能衰退可以分为正常性衰退和滥用性衰退。

正常性衰退是指手机电池放电循环次数的减少，是由于电池在正常使用状态下的自然衰退，也是无法避免的。

滥用性衰退是指手机电池因为不正确的使用方式而造成的衰退，比如过度充电、过度放电、在极度高温或低温下使用、进行大功率的充放电等，这种衰退是可以避免的。

手机锂电池测试，大电流弹片微针模组是连接和导通的媒介，能起到传输大电流的作用，在小pitch中也有可靠的应对方案，性能稳定，导通功能强。

首先结构上，大电流弹片微针模组为一体成型的弹片式设计，具有整体精度高、阻抗小、过流能力强的特点，有多种头型可供选择，能根据测试需求进行定制。其次性能上，大电流弹片微针模组，在pitch≤0.2mm领域中，适应性、兼容性都较好，连接时不卡pin、不断针，具有明显的优势；电流传输时，可承载高达50A的大电流，过流稳定，电压恒定，具有极佳的连接功能。

测试中，其使用寿命平均在20w次以上，导通性强，无需频繁更换，有利于手机锂电池测试稳定进行，切断危险电池往外流通的可能性。

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