PXI平台的开放式体系结构和其硬件与软件的优势

本文演示了灵活，可扩展PXI平台的开放式体系结构和其硬件与软件的优势，用于半导体测试

被测设备

目标设备是具有802.11n和蓝牙功能的WiFi IC。在查看了目标IC规范后，确定了一组测试IC的资源要求，并将其与PXI尺寸中可用的仪器相匹配。被测设备（DUT）需要四个电源，并且在给DUT上电时必须按特定顺序对电源进行排序。

此外，尽管DUT的IDD非常低，但在初始化DUT时，其中一个电源的浪涌电流可能会超过1A。电源要求强制使用可编程电源，并且必须容纳1A的浪涌电流。初始加电时，DUT处于低功率空闲状态，因此可以进行通信。DUT上有两个通信端口：JTAG端口和扫描端口。JTAG端口用于配置和初始化DUT，并执行IO的初始结构测试。扫描端口用于配置DUT的运行并完成结构IO测试。还可以使用“扫描”端口控制DUT进行其他功能测试。  

由于DUT已经在UltraFlex系统上进行测试，因此DUT有一套经过验证的测试模板，可用于PXI系统。Marvin Test Solutions的文件转换工具可用于将ATP文件转换为硬件特定的模式，数字测试仪器满足准确表示ATP模式文件参数所需的速度、信道密度、模式深度和定时能力。

测试系统

为了代替与UltraFlex系统相关的IC处理器，需要一种与DUT进行接口的方法。设计了专用的DUT板，并通过电缆将其连接到演示系统的仪器。DUT板设计经过模块化处理，可以轻松扩展测试站点的数量，并展示多站点测试功能。

测试系统

所示的系统设计包括GX7100B PXI 3U / 6U组合式智能机箱。需要3U和6U PXI插槽的组合以容纳两个GX7400A可编程电源。每个GX7400A在三个6U插槽中提供两个150W可编程电源。

选择了四个GX5296 PXI模块作为DUT的数字测试仪器。GX5296每块卡提供32个IO通道，每个通道具有完整的PMU功能，64M模式深度，125 MHz时钟速率，1nS边沿时序分辨率，每个引脚的时序以及DUT响应数据的实时比较。使用MTS的GtDio6x-FIT文件转换工具，从UltraFlex ATP模式文件转换了数字测试模板，并进行了格式化，以使每个DUT的模式都驻留在两个GX5296仪器上。将功能从测试一个DUT扩展到两个DUT只需添加第二组GX5296仪器，并将这些模块连接到第二个DUT测试板即可。

测试软件

使用ATEasy开发环境编写了用于控制加载转换后的ATP测试模板，运行模拟接触测试，执行测试模板并将测试结果报告给操作员的软件，并使用集成的Test Executive GUI控制了测试执行。还编写了演示，以显示针对半导体测试应用使用开放式体系结构硬件和软件工具的总体多功能性。

责任编辑：xj

原文标题：解决方案聚焦：如何使用PXI仪器进行高级数字测试

文章出处：【微信公众号：半导体测试】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。