数字源表可帮助提取半导体器件的基本 I-V 特性参数

半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。

直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，除此以外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。

分立器件 I-V 特性测试的主要目的是通过实验，帮助工程师提取半导体器件的基本 I-V 特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。

数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量，使用非常广泛。

Precise S型数字源表最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，全触摸屏操作，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中：半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

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