手机电池性能和寿命衰退的原因分别是什么

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描述

手机电池性能

手机电池性能衰退可以分为正常性衰退和滥用性衰退。正常性衰退是指手机电池放电循环次数的减少,是由于电池在正常使用状态下的自然衰退,也是无法避免的。滥用性衰退是指手机电池因为不正确的使用方式而造成的衰退,比如过度充电、过度放电、在极度高温或低温下使用、进行大功率的充放电等,这种衰退是可以避免的。

手机电池尽量不要在低电量的情况下使用,电量低于20%时就应该立即充电,当手机电池电量低于5%时,继续使用会对电池造成不可逆的损伤,严重损害手机电池的性能。手机电池中都有电池保护板的存在,可以保护手机电池不被过度充电,但是当手机电池充满电后,还继续对电池进行长时间的充电,依然会使手机电池的性能受到损伤,进而衰退。

手机电池寿命

手机电池的循环寿命与充电周期有着直接关系,一般来说,手机电池的充电周期为在500次左右。手机电池的充放电周期是指手机电池从100%电量用到0%,再从0%电量充到100%的过程,必须完全进行充放电才能算作一个周期。

手机电池如果是从20%开始充电到100%,这个过程是不算做一个周期的,手机电池通常要经过好几次充电才能完成一个充电周期,只有在经过多个充电周期后,手机电池的寿命才会有所衰退,而品质较好的手机电池即使寿命有所衰退,也依然能保留原来容量的80%。从使用年限来说,手机电池的使用寿命通常在2-3年左右,这也是较为普遍的手机换机周期。

手机电池长时间不用时,即使在静止状态下,电池的循环寿命也会有所衰退,因为手机电池有自放电行为,虽然自放电较小,但是电量会慢慢地衰减。如果静置时间太久,而从不给手机电池进行充电的话,手机电池就会自动进入休眠状态,电池性能和寿命可能会有所衰退。

手机电池测试

手机电池的性能会受到很多因素的影响,有些因素可以通过测试检验出来,从源头上杜绝,比如不良制作工艺、不合规的电池保护板、劣质的电芯等等。对于手机电池的性能、质量等的测试,大电流弹片微针模组连接稳定、导通能力强,在传输大电流时,能承载1-50A范围内的电流,电压恒定,电流无衰减,有着很好的连接功能。

手机电池是通过BTB连接器与主板起到连接,BTB连接器的pitch较小,大电流弹片微针模组能适应小pitch领域的测试,在0.15mm-0.4mm之间表现力都很优秀,既不卡PIN也不断针,可保持稳定的连接。不仅如此,它的平均使用寿命在20w次以上,可连接使用,无需更换,为手机电池测试大大节省了时间,还能有效提高测试效率,性能稳定可靠。

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