薄膜表面瑕疵检测系统的技术指标都包括哪些

众所周知，如今越来越多的薄膜生产制造商为了降低成本、提高生产效率，会选择高幅宽、速度更快的生产线，赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统用于检测各类薄膜产品在生产过程中表面出现的污点、蚊虫、孔洞、杂质等常见缺陷,系统可以在生产过程中及时的发现产品表面出现的疵点信息，实时反映生产线表面的缺陷信息，并进行瑕疵分类处理，完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。

赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统技术指标包括以下几点：

1、测量精度：0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵

2、适用宽度：按要求定制

3、CCD数量：依被测物宽度及检测精度决定

4、检测常见的瑕疵，对瑕疵缺陷信息进行处理，实时提供瑕疵的位置、大小，以及记录供用户参考核对

5、系统可设置瑕疵报警的参数，用户可根据生产要求设置报警线，实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统检测原理

系统整体采用工业CCD相机在线图像扫描的工作原理，在生产线高速生产的状态下，采用特定波长的高亮LED工业线性聚光光源照射产品表面（对于不透明的薄膜产品采用反射的检测原理），同时通过工业CCD相机实时扫描并采集光源照射处的产品图像。

系统将相机采集到的薄膜图像经过赛默斐视图像软件算法进行瑕疵识别处理。由于瑕疵的成像图片与正常产品的成像图片存在灰阶差异，从而使的系统能够精准发现产品的缺陷；同时根据事先采集各类瑕疵的图像特征并记录缺陷库，从而实现了瑕疵的在线检测、分类与后续处置。

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