金鉴显微红外热点定位测试仪优点介绍

近日，广州市科学技术局公示了《广州市2019年度创新产品目录拟入选名单》，金鉴实验室自主研发的显微光分布测试仪、显微红外热点定位测试仪成功入选广州市创新产品“科研仪器设备”目录。

广州市2019年度创新产品目录拟入选名单

此次公布的广州市创新产品涉及科研仪器设备、教学科研仪器等5个领域，入选产品必须符合创新程度高、产品质量可靠、技术先进等要求。产品运用新技术原理、新设计构思，在结构、材质、工艺等方面对原有产品进行根本性改进，显著提高产品性能，在同类产品中处于领先水平，同时具有自主知识产权。

金鉴显微光分布测试仪、显微红外热点定位测试仪性能卓著，已获得高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。此次能获得广州市创新产品荣誉称号，再次证明了金鉴实验室的设备研发与自主创新能力。

金鉴显微光分布测试仪

显微光分布测试仪，针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。

应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。

金鉴显微光分布与传统设备大PK：

金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。

金鉴显微红外热点定位测试仪 

金鉴显微红外热点定位测试仪是专为电子产品FA设计的高精智能化的测试系统，可应用于PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、热梯度。

金鉴显微红外热点定位测试仪优点：

①　高灵敏度的锁相热成像缺陷定位；

②　配合电测，XRAY等对样品作无损分析；

③　选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片；

④　对短路及漏电流等分析效果佳；

⑤　0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗；

⑥　其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算；

⑦　相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受。

根据《广州市人民政府关于印发进一步加快促进科技创新政策措施的通知》（穗府规〔2019〕5号）有关规定，将探索建立符合国际规则的创新产品政府首购制度，加大重大创新产品的采购力度。金鉴实显微光分布测试仪、显微红外热点定位测试仪获得创新产品的认定，将有助于通过首购等方式实施政府采购。

今后，金鉴实验室将不断研发和创新设备产品，欢迎政府部门、科研机构及各大企业采购！
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