TDK推出霍尔效应产品系列CUR 4000传感器

非侵入式，电隔离、非接触式电流测量

可配置用于读出多个霍尔阵列的高精度线性电流感测或差分无核和杂散场鲁棒电流感测

符合ISO 26262 ASIL-B标准并通过AEC-Q100认证

TDK公司通过CUR 4000传感器扩大了其Micronas霍尔效应传感器产品系列。该传感器旨在为汽车和工业应用开发高精度电流测量技术，提供非侵入式、电隔离、非接触式电流感测。这些特征将有助于混合动力和电动汽车（xEV）高压系统的未来发展。该产品适用于DC和AC测量，以及大功率电池检测应用程序中的过流检测，还可用于测量电流≥2000A范围内的动态电流。* 对于此类测量任务，CUR 4000具有用于线性有核应用程序设置和差分无核应用程序设置的不同可配置模式。

计划于2021年第二季度进行该传感器的生产，目前已提供样品。

在CUR 4000的线性模式下，可配置的霍尔元件阵列可实现有核杂散场鲁棒传感器模块设计的高精度测量。差模可实现无屏蔽的最小无核和杂散场鲁棒系统设计。完整的霍尔阵列读数可达到低于满量程±0.05％的输出失调温度漂移。此外，传感器还提供无磁滞的输出信号。±0.2％的非线性误差和满量程的±0.005％的噪声性能允许在高达8kHz的信号带宽下进行精确的电流测量。

TDK使用成熟的霍尔传感器技术来构造CUR4000。通过对非易失性存储器进行编程，可以根据磁路调整诸如温度相关增益和失调之类的主要特性。根据ISO 26262的规定，CUR 4000被定义为支持SEooC ASIL-B，具有数种板载诊断功能，该功能使用冗余技术或与其他电流传感技术相结合，为具有更高ASIL级别的电流传感器模块奠定了基础。

CUR 400采用小型8引脚SOIC8 SMD封装，与通孔封装相比，其组装复杂度较低。

xEV = 包含电动牵引电机的车辆

SEooC = 脱离上下文的安全元素

SPI = 串行外设接口

SOIC = 小尺寸集成电路

xEV电池监控，电池断开单元和过电流检测

固定式电池管理

多霍尔阵列传感器技术，用于高精度有芯电流感测

可配置用于读出多个霍尔阵列的高精度线性电流感测或差分无芯和杂散场鲁棒电流感测

非接触式电流感测（非侵入式）

SEooC ASIL-B符合ISO 26262的要求，可支持功能安全应用

数字（SPI）接口，用于直接微控制器连接和传感器编程

睡眠模式（唤醒引脚），功耗低 

汽车温度等级（TA = -40°C至150°C）

原文标题：磁性传感器：TDK推出用于高精度电流感测的柔性多霍尔阵列传感

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责任编辑：haq