精谱测控食品包装薄膜缺陷检测系统检测方法

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描述

传统的检测方法如人工目视抽检速度慢、精度低、易疲劳已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求。基于CCD的薄膜表面瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比,具有快速、可靠、准确的优点,实时在线检测,自动报警并显示当前瑕疵的具体信息,以便及时进行处理。

精谱测控食品包装薄膜缺陷检测系统的工作原理:

针对透光率高的薄膜材料,系统采用透射的打光检测方式进行检测,即光源在薄膜的下方,相机在薄膜的上方进行图像拍摄(对于不透明的材料则采用反射的打光方式,即光源与相机在所要检测面的同一侧)。产线运行时,系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测,系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理,由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异,从而使得系统能够发现瑕疵,并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

精谱测控食品包装薄膜缺陷检测系统技术参数:

检测对象:保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵:晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度:Max:800m/min

检测幅宽:任意(根据生产线定制)

检测精度:0.1mm~1mm(取决于相机数量、产线幅宽及车速)

瑕疵标识:自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录:根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

精谱测控食品包装薄膜缺陷检测系统功能:

精确的瑕疵坐标(X,Y坐标)定位及显示;

自动声光报警,并显示当前及前后10个瑕疵图像;

实时瑕疵标定,记录瑕疵直径、坐标、类型等信息;

实时监测米数,报警信息显示;

产品基本信息模块,记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息;

根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类;

自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录,用户可根据批次号直接查询;

自动换卷,自动打印每一卷产品信息的质量报表;

检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能

责任编辑:lq

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