薄膜表面缺陷检测系统的原理及特点

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统实时在线检测出薄膜表面瑕疵信息——如今越来越多的薄膜生产企业要求速度更快、幅度更高的生产线。在生产过程中薄膜表面产生的各种污点、杂质、蚊虫以及孔洞等等，依靠人工检测早已无法满足生产和高速的薄膜生产线的需求，容易造成质量的损失。

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统检测薄膜上的脏污点、条纹、破损、边缘裂缝、皱折、暗斑、亮斑、边缘破损、黑点疵点、毛发、蚊虫等常见表面缺陷，薄膜检测系统利用高分辨率线阵相机、高清镜头及配套线光源等硬件设备，配合专业的软件技术实力，生产线正常生产时，高亮的LED线性聚光冷光源采用透射的原理照射在生产线表面（对于不透明的薄膜产品采用反射的检测原理），通过架设在生产线上的线阵相机进行实时同步扫描，同时系统将相机采集到的薄膜图像通过图像处理系统软件进行瑕疵识别处理。由于瑕疵图像的灰阶与正常产品存在明显差异，从而使系统能够发现瑕疵，同时对瑕疵进行有效的判定、分类并进行后续处理。

随着计算机技术的不断进步，在实验室和生产现场利用图像采集和图像处理技术进行表面缺陷检测变得越来越容易。现在不仅有速度更快的CPU、PCI总线架构等硬件能够满足视觉应用要求，而且软件也越来越功能强大直观易用，便于测试工程师针对具体需求开发各种应用。

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统原理：

视觉系统的输出并非图像视频信号，而是经过运算处理之后的检测结果（如缺陷、尺寸等数据）。通常，机器视觉检测就是用机器代替肉眼来做测量和判断。首先采用CCD照相机将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号。

图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如：面积、长度、数量、位置等。最后，根据预设的容许度和其他条件输出结果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、个数、合格/不合格、有/无等。上位机（如PC和PLC）实时获得检测结果后，指挥运动系统或I/O系统执行相应的控制动作（如定位和分类）。

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统主要技术指标：

1、测量精度：0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵；

2、适用宽度：按要求定制；

3、CCD数量：依被测物宽度及检测精度决定；

4、检测常见的瑕疵，对瑕疵缺陷信息进行处理，实时提供瑕疵的位置、大小，以及记录供用户参考核对；

5、系统可设置瑕疵报警的参数，用户可根据生产要求设置报警线，实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统特点：

量身定制的专用系统：精谱测控系统是充分对客户进行调研，根据车速、幅宽、塑料薄膜品种、最小检测要求为其量身定制的。也就是说，精谱测控力求以专用的相机和专用的长效光源，并根据客户样品测试分析出最合理的解决方案以达到性价比的最优化。

实时检测：精谱测控系统的安装位置一般在卷取部之前，可以实现24小时不间断进行检测、识别和分类显示各种薄膜表面缺陷，对任何高速和宽度的生产线都可以100%地实现实时在线检测。操作人员可以即时观测到缺陷的图象，并可根据系统准确提供的缺陷位置信息，在后续生产过程中实时进行剪切或修复缺陷等措施。

自动精准定位：系统具有标记打印器以用来指示缺陷的准确位置，操作人员可以根据需要对要处理的缺陷做标记，复卷操作人员可以手动地将复卷机停在缺陷处对缺陷处进行修复。另外，可以通过调用存储的塑料薄膜缺陷记录，反向复现并与传动实现联锁，从而使复卷机能够准确自动地停在塑料薄膜缺陷处，以便进行修复。

易于维护：基于以太网的构架和模块化的控制单元，实现远程系统更新维护，从而保证了整个系统工作的稳定性。另外，该系统人性化的外安装结构及合理布局，也使维护变得更方便。

操作方便：精谱测控系统具有友好的中文界面，易操作，同时系统可以根据生产商的要求进行硬件和软件上的升级，从而帮助生产商提高产品质量，适应国际市场要求。

责任编辑：tzh