INT0中断实验

控制/MCU

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描述

INT0中断实验。
 1、按键中断实验。低电平中断,在中断中改变PB1电平状态。
 2、内部1 M晶振,程序采用单任务方式,软件延时。
 3、进行此实验请插上JP1的所有8个短路块,JP7(LED_EN)短路块


*/
#include "iom16v.h"
#include
/*延时函数*/
void delay_ms(unsigned char i) {
 unsigned char a, b;
 for (a = 1; a < i; a++) {
  for (b = 1; b; b++) {
   ;
   }
  }
}
void main(void) {
 DDRA = 0x00;    /*方向输入*/
 PORTA = 0xFF;    /*打开上拉*/
 DDRB = 0xFF;    /*方向输出*/
 PORTB = 0xFF;    /*电平设置*/
 DDRC = 0x00;
 PORTC = 0xFF;
 DDRD = 0x00;
 PORTD = 0xFF;
 GICR |= (1 << INT0);
 SEI();
 while (1) {
  delay_ms(200);
  PORTB ^= (1 << 0);  /*PB0电平取反*/
  }
}
#pragma interrupt_handler Int0: 2  /*外部中断INT0*/
void Int0(void) {
 unsigned int i;
 PORTB ^= (1 << 1);   /*PB1电平取反*/
 i = 1000;     /*加入廷时防按键颤动*/
 while (--i);
 while ((PIND & (1 << PD2)) == 0);  /*等待按键松开*/
 i = 1000;     /*加入廷时防按键颤动*/
 while (--i);
}

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2011-07-06
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