季丰电子透射电镜的简单介绍

穿透固体样品的能力主要取决于加速电压，样品厚度以及物质的原子序数。一般来说，加速电压愈高，原子序数愈低，电子束可穿透样品厚度就愈大。因此，通常情况下，在制备TEM样品时，越薄越好。

季丰电子的透射电镜是目前主流的Thermo ScienTIfic FEI Talos系列。用于量、高分辨率表征和动态观察的TEM和STEM分析，线分辨率≤0.1 nm，STEM分辨率≤0.16nm。搭配高端Helios 5系列FIB系统可以制备、观察厚度在20nm以下的超薄样品。4k × 4k Ceta 16M 相机可在 64 位平台上提供大视场、高灵敏度快速成像。
审核编辑:汤梓红