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Hqst盈盛(华强盛)电子导读:上一节给大家分享了惠普公司的HP4263B型仪器HP4263B型LCR测量仪的开路校正,这节和大家分享HP4263B型LCR测量仪的负载校正
一、HP4263B型LCR测量仪负载校正准备
负载校正在正式检测元件之前进行。
进行负载校正需要有一个预先精确测量好了的可作参考标准的元件。最好选择阻抗值比较稳定的电阻或电容作为标准负载。在负载校正操作过程中,需要先向HP4263B型LCR测量仪输入标准负载的值。输完标准负载值后,将标准负载连接到夹具上。按下负载校正键后,液晶屏上显示的将是标准负载值。
从夹具上取走标准负载,换上待检测的元件,液晶屏上显示的将是消除了夹具及其连线影响的待检测元件的真实值。
二、HP4263B型LCR测量仪负载校正原理
下面以检测电阻为例来说明负载校准的过程。检测时,选用复阻抗表示待测元件值,并且主参数选为R、次参数选为X。R代表电阻本身的阻值,X代表其电抗。进行负载校正操作之前,先将作为标准负载的电阻接到夹具上。
标准负载校准的过程如下:
第一步,将输入标准负载的实数和虚数部分输入到内部微机内存的指定存储单元中。
第二步,测出标准负载加上夹具及其连线的阻抗值,并把测到数据的实数和虚数部分存到另外两个存储单元中。
第三步,算出校正系数。
以ZsT、RsT和XsT依次表示已输入的标准负载的阻抗、电阻和电抗,则有关系式:
ZsT=RsT+jXsT (3,3.3)
以Z1、R1和X1依次表示测到的标准负载加上夹具及其连线的阻抗、电阻和电抗,则有关系式:
Z1= R1+jZ1 (3.3.4)
以式(3.3.3)作分母,以式(3.3.4)作分子做除法运算。运算得到的商就是校正系数k,即
(3,3.5)
校正系数k是个复数,将此复数存入内存的[R]和[X]两个单元中。
第四步,开始检测其他待测元件
完成上述三步后,从夹具上取走标准负载,换上其他待测元件。每进行一次对其他待测元件测量,都要对测到的被测元件加上夹具及其连线的阻抗除以校正系数k。除得的商就是经过校正后的被测元件的真实值。最后把被测元件的真实值显示在液晶屏上。
在未进行标准负载校准之前,保存校正系数的两个存储单元中的值为:[R]=1.0000Ω,[X]=0.0000Ω。其校正系数k=1,一个复数除以实数1,不会有任何变化,等于没有校正,因而,在未进行标准负载校准之前,直接检测待测元件,得到数据将是待测元件加上夹具及其连线的阻抗值。
三、HP4263B型LCR测量仪的三种检测校正原理解析
HP4263B型LCR测量仪的三种检测校正与弹簧称物校正的类比
用弹簧称物与HP4263B型LCR测量仪检测元件很相似。用弹簧称物时,在未加载待称物之前,需要检查指针是否指在0点,如果偏离0点就要将指针调到0点。HP4263B型LCR测量仪的短路校正和开路校正,相当于将弹簧秤的指针调到0点。
HP4263B型LCR测量仪的负载校正相当于用标准重量的物体对弹簧秤的刻度进行校正。例如,标准重量为1kg的物体被称成1.1kg,则校正系数为1.1。在称其他物体时要对称出的结果除以1.1之后,才能获得物体真实重量。
以上就是惠普公司的HP4263B型LCR测量仪的负载校正
接下来石门盈盛电子工程技术将分几节开始介绍:耐压强度/绝缘电阻检测仪的工作原理及其注意事项
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审核编辑:汤梓红
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