迪赛康科技(深圳)有限公司一直专注于高频、高速相关的产品研发,已经陆续推出全系列接口高速测试夹具,多款同轴连接器,高频高速线缆和测试探针等高速相关产品,并申请专利。
最近研发出一款最新的差分测试可调间距探针,非常适用于信号完整性验证、芯片评估、共面波导、电路调试及测试装置用途,配合探针台和网络分析仪,基本可以做到高速信号测试无死角(阻抗,损耗哪里不对点哪里)。
差分仿真模型及仿真结果:
通过控制差分探针SS之间的距离,将探针针尖位置阻抗优化至100±1ohm(Tr=35ps),且实现本款可调间距的差分探针在0.05~5.0mm范围内调整间距时,探针针尖阻抗波动在100±2ohm以内,40GHz回损满足18dB。
我们推出的这款探针具有宽频带、精阻抗、高性价比、高可靠性等特点,精细研磨,特制倒角,有效解决ACP探针测试堆金问题,高可靠性测试,无缝隙覆盖DC~40GHz,产品统一采用标准安装接口,GSSG间距可调触点形式,触点尺寸50um,可通用适配多种探针台、探针臂,适用于微波集成电路在片测试、管结参数提取、MEMS产品测试及片上天线测试等领域。
注:以上S参数测试结果包括两个差分探针,一个差分探针插损测试结果应该为上图测试结果的一半。
迪赛康差分探针参数
1. 阻抗特性:100Ω±2%
2. 引出角度: 45°
3. 信号形式:GSSG
4. 触点间距:可调间距
5. 触点宽度:50um
6. 接触电阻:30mΩ
7. 工作温度:-55~125°
外形尺寸:
注意事项:探针头部结构都为精密零件,测试时必须配合探针台使用!
我们很高兴能够将此探针产品推向市场,并为当下该领域内的技术难题提供一种新颖独特的解决方案。有了这款性能已得到验证的产品,客户无需再使用当前作为权宜之计的临时探针,而且测试人员可实现控制性和可重复性更高的测试。
原文标题:一款高性能、差分可调间距测试探针(GSSG)
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审核编辑:汤梓红
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