芯片透射电镜测试—竞品分析
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FIB制作激光芯片TEM薄片
fib减薄
TEM下观察指定位置并进行尺寸测量，如下图所示。
量子阱
对指定位置进行EDS面扫描测试，如下图所示。
审核编辑：符乾江
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