高精度S型源表在微小电阻测试领域的应用

系统背景

电阻测试是表征材料特性的最常用测试手段，在某些应用中，用户需要进行极端微小电阻（Ultra-lowresistance）测试，例如纳米材料，超导材料，继电器开关，低电阻材料、连接器的测试，或者精密的热量测定和研究领域。这些被测件通常具有非常高的导电性和非常小的电阻阻值，对测试连接方案有很大挑战。在进行这类材料和器件的测试过程中，为了最大限度的降低被测设备的自热效应，确保待测件的安全和测量的准确性，通常会使用加流测压的方式，在被测物两端施加可控的微弱精密电流信号，通过欧姆定律测定被测件的电阻阻值。在微小电阻测试领域，普赛斯仪表提供的微小电阻测试方案，通过使用普赛斯高精度S型源表，以及纳伏表组合成为完备的测试解决方案，完美解决了在微小电阻测试过程中经常遇到的问题，使电阻测量灵敏度高达10W。再配合上位机软件和测试夹具，可以一站式解决用户在仪表与待测件连接，测试结果存储，以及数据分析过程中遇到的繁杂问题，提高测试效率。

方案特点

极高的电阻测试分辨率和大测试量程，相比其他方法，S型数字源表方案提供了高达10nΩ的电阻测试分辨率，提供了极高的性价比。

更好的发热控制。

S型源表输出的电流分辨率最高可以达到 10pA，可以精确控制加载在待测件两端的电流大小，确保待测件处在安全状态下。

 交钥匙方案设计，可以提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。

审核编辑：汤梓红