Parametric 系列 Pyramid 探针卡的主要特征

Parametric 系列 Pyramid 探针卡概述

Parametric 系列 Pyramid 探针卡是高性价比的测试解决方案，兼容所有主流的参数测试机平台，实现 65 nm 和 45 nm等先进工艺参数测试要求。与传统技术的探针卡相比，FormFactor 的创新型 PyramidPlus™ 制造工艺可提供较好的信号完整性和更快的稳定时间，帮助客户大幅度降低芯片的测试成本。Parametric 系列 Pyramid 探针卡适用多种应用，如工艺开发、量产测试的纯DC 参数量测（在线工艺节点和末端工艺节点）、WAT 等。

Parametric 系列 Pyramid 探针卡主要特征：

从探针卡针尖到PCB上的通道保持在极低的漏电流

卓越的测量精度主要表现在低漏电流控制 (1 fA/V)、快速稳定时间和降低串扰

可兼容铜 (Cu) Pad和铝 (Al) Pad接触测试最小支持 30 µm × 30 µm 的Pad

使用PyramidPlus™ 制造工艺可提供较好的信号完整性和更快的稳定时间，帮助客户大幅度降低芯片的测试成本

审核编辑：符乾江