FormFactor的RFgenius晶圆上S参数测量套件

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推出RFgenius晶圆上S参数测量套件

        FormFactor的RFgenius晶圆上S参数测量套件包括以实惠的价格实现精确测量所需的所有关键组件-从探测站到网络分析仪,应有尽有。所有经过验证并证明可以提供领先的性能测量。

        我们的RFgenius晶圆上S参数测量包包括以合理的价格实现精确测量所需的所有关键组件 – 从探测站到网络分析仪。所有这些都经过验证并证明可提供领先的性能测量。这个入门级系统是大学和学校的完美,易于购买的选择,实验室空间最小。

RFgenius软件包包括执行高度精确测量的所有关键组件。不仅是探针台,探针,定位器,电缆,校准基板和校准软件,还有矢量网络分析仪(VNA) – 业界首创。

该解决方案的性能范围得到了进一步增强,远远超出了简单的产品包。这些组件的完美集成,与先进的人体工程学设计和易于操作的控制相结合,确保了最佳的可用性和高度精确的测量。你得到:

  1. 150毫米手动探针台:
  •  
    • RF卡盘+/-3μm表面平面度
    • 独特的200μm压板接触/分离行程,精度小于或等于1μm,可重复接触
    • 精准的探针对准
    • 一致的接触力和超行程
    • 稳定的接触性能
  1. 是德科技VNA:
  •  
    • 宽频率覆盖范围:4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz
    • 全2端口VNA
    • 小巧紧凑的外形
    • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校准和计量功能
    • Keysight VNA的通用GUI
    • 能够扩展端口数量
  1. 探头和电缆:
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    • 无限探头– 最适合AI(Si)
    • ACP探针– 最适合AU(III-Vs)
    • | Z | 探测– 坚固的解决方案,使用寿命长
    • 精确接触各种材料
    • 准确的测量结果和卓越的串扰特性
    • 包含了匹配的电缆和衬底
  1. 校准工具:
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    • 独有的 1、2、3 和 4 端口晶圆上校准算法
    • 自动化校准监视
    • 独特的测量和分析方法
    • 准确的S参数测量
    • 自动校准设置用于提高效率
    • 简便快捷的数据解释和报告

您将获得这个完整的软件包,以及可用的支持,安装和培训。无论您是进行关键测量还是只想学习如何进行晶圆上的S参数测量,我们都拥有所需的测试专业知识,可帮助您取得成功。

审核编辑:符乾江

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