光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用

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光研科技自主研发的光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。通过光束分析装置一体化设计,配套衰减方案设计,支持实时曝光及增益调节。适用在半导体激光器,固体激光器,光纤激光器,超快激光器,激光测距等领域。

目前已作为成熟产品在市场推广,性价比很高,得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。

半导体

产品特点:

1. 可选超宽光谱多波长系列产品,覆盖紫外到长波红外波长范围。

2. 较宽的光斑直径测量范围:光斑直径范围可满足目前市场大部分的光斑产品范围,部分产品支持更小光斑拓展。

3. 光斑分析仪一体化设计,配套衰减方案设计:设备自带吸收衰减装置,测低功率的毫瓦级激光,也可根据不同功率激光测试的需求,提供可选的衰减方案,无需准备其他配件即可快速测量。

4. 软件全自主开发,可提供底层通讯协议。

5. 高性价比,可代替进口激光光束质量分析仪,实现激光光斑检测及测试应用。

产品型号:

半导体

需求定制

可为客户定制不同需求的光斑分析仪,不同的激光束直径,激光功率等。

半导体

审核编辑 :李倩

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