扫描电子显微镜（SEM ）工作介绍

扫描电子显微镜（SEM Scanning Electron Microscope）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段，在光电技术中起到重要作用。

其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大， 视野大， 成像立体效果好。

此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。

很多学科都离不开的重要大型科研仪器，扫描电子显微镜主要组成部件、基本工作原则、实用程序、表面成像和化学分析。

SEM工作介绍

扫描电子显微镜具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富，几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。

扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究。这有一些比较特别的图片。

SEM在光纤的开发中发挥了不可替代的作用。光纤的端面微结构、瑕疵、成分分析等，都离不开SEM的功能。来分享几个有意思的特种光纤端面图：

悬挂芯光纤（参看：简约但是不简单-用于光纤预制棒制备的套管法）

双芯悬挂光纤

带隙型空芯光纤

还有很多有意思的特纤结构。



审核编辑：刘清