三极管吸潮失效分析案例

案例背景

三极管也称为晶体三极管，它被视为电子电路中最重要的器件之一。三极管顾名思义具有三个电极，它最主要的功能是电流放大和开关作用。

本次失效案例中的三极管在仓库存放一段时间后，在PCBA测试过程中集中发生不良。

 

分析过程

1.外观检测

对失效样品进行外观检测，未发现明显破损、裂纹等不良。
 

2.X-ray检测

对失效样品进行X-ray检测，金线、绑定点未发现异常。
 

3.开封检测

对失效样品进行开封检测，发现存在键合点脱落的现象，键合点附近的晶圆破损。
 

4.SEM检测

对失效样品进行SEM检测，发现晶圆键合点位置有裂纹和破损，金线键合点脱落。
 

分析结果

经开封检测后观察到金线键合点有脱落的现象，同时晶圆键合点位置有裂纹。之后进行SEM检测，发现晶圆位置有裂纹，且大部分裂纹集中在金线键合点周围。从裂纹的分布状况来看，基本可以排除过流过压造成的损伤。
因此，根据以上的分析，可以推断出造成三极管内部晶圆裂纹的原因是：1.因三极管存放不当，暴露在空气中时间较长，导致部品受潮；2.受潮三极管在高温中，因受热冲击膨胀，三极管在应力下出现晶圆破裂。

 

 

新阳检测中心有话说：

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　　审核编辑：汤梓红